天星ED400陽(yáng)極氧化膜測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

天星ED400陽(yáng)極氧化膜測(cè)厚儀

天星ED400陽(yáng)極氧化膜測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)：

·ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高。

·，適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

·用于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

·儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。

·ED400型渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：

·量程寬:ED400型的量程達(dá)到0～500μm。

·精度高:ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。

·分辨率高:ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。

·校正簡(jiǎn)便:只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。

·基體導(dǎo)電率影響小:基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量 誤差不大于1～2μm。

·可靠性提高:采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性 提高。

·穩(wěn)定性提高:采用*的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器 校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。

·探頭線壽命長(zhǎng):采用德國(guó)進(jìn)口的，在德國(guó)測(cè)厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命可大大延長(zhǎng)。

·探頭芯壽命長(zhǎng):采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。

·探頭可互換:外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)需返廠維修。

的技術(shù)參數(shù)：

·測(cè)量范圍:0～500μm。

·測(cè)量精度:0～50μm：±1μm；50～500μm：±2%。

·分辨率:0～50μm：0.1μm；50～500μm：1μm；0～500μm：1μm（可選）。

·使用溫度:5～45℃。

·外形尺寸:150*80*30mm。

·重量:260g。

的標(biāo)準(zhǔn)配置:

·主機(jī)………………1臺(tái)。

·探頭………………1支。

·基體………………1塊（6063合金）。

·校正箔片…………1片（約50μm，附檢測(cè)報(bào)告）。

·使用說(shuō)明書(shū)………1份。

·合格證……………1份。

·保修單……………1份。

·手提式儀器箱……1個(gè)。

的可選附件:

·備用探頭。

·基體。

·校正箔片（約50μm，附檢測(cè)報(bào)告）。